外觀檢測AVI~半導體 (Wafer外觀檢測)
産品分類
全部分類
◆特點:
·Micro OLED在線光(guāng)學測試系統,3inch以下(xià);
·自(zì)動運動控制;
·産品上(shàng)下(xià)料,自(zì)動對位,自(zì)動壓接、自(zì)動測試;
·采用快速多(duō)功能(néng)夾具,支持多(duō)種型号産品,快速切換;
·多(duō)儀器(qì)搭載,支持AOI&光(guāng)學OTP;
·支持不同溫度點gamma調整,燒錄;
·自(zì)動分類,區分不同等級良品與不良品以及匹配度。
項目 | 規格 |
尺寸 | 長(cháng)*寬*高(gāo): 5.35m *5.24m *2.29m |
測試樣品大小(xiǎo) | 0.39inch~3inch |
彩色分析儀 | CA402,探頭測量☐徑約2 mm.探頭采用專用的光(guāng)學系統與算(suàn)法,确保在超 低(dī)亮度與小(xiǎo)尺寸測量的條件(jiàn)下(xià)仍可準确測量 |
相(xiàng)機(jī) | 1、AOI相(xiàng)機(jī)4300萬,高(gāo)分辨率CCD。 2、AVI相(xiàng)機(jī)AV1--500 萬相(xiàng)機(jī)( 2432 x2050 ),Y方向視野25mm |
運動系統 | 采用高(gāo)精度伺服電(diàn)機(jī),高(gāo)精度滾珠螺杆 |
功能(néng) | 色度、亮度、均勻性、、光(guāng)譜測試等 支持:點線、面缺陷測試, mura測試 |
信号 | 支持特儀自(zì)制信号機(jī)以及市(shì)面通(tōng)用品牌信号機(jī),支持客制化信号,信号格式: TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等 |
電(diàn)源 | 支持高(gāo)精度多(duō)路(lù)直流電(diàn)源輸出,以及客制化電(diàn)源需求 |
軟件(jiàn) | 特儀自(zì)主開(kāi)發之軟件(jiàn),全中文版,C#編程模塊化, 操作簡單,UI界面可依據 客戶需求進行定制,軟件(jiàn)自(zì)帶各标準測試手法,可以通(tōng)過直接調用模式進行測 試 |
上(shàng)一(yī)個(gè)
CELL TEST AOI
下(xià)一(yī)個(gè)
無
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