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Bist card TY-BIST
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本産品适用于LCM open cell産品bist mode老化測試需求,可根據客戶規格定制。

項目 參數
電(diàn)源供給 DC24V
VDD通(tōng)道數 2路(lù)
VDD 3~20V
VDD精度 max 1%
VDD紋波 max 1%
IDD 2路(lù)max 20A
電(diàn)源精确度 max 1.5%
啓動電(diàn)流 10A/10ms
輸出功率 單通(tōng)道120W(max)
O/UVP範圍 ] 參數可調0.1V /step
UVP 2.4V~15V
OVP 2.6V-15.2V
UCP範圍 參數可調0.1A/step
OCP 0~3A
電(diàn)源控制 可獨立控制on/off
Rising Time <10ms
Falling Time <20ms
測試接☐ GPIO信号輸出( 0V/3.3V/5V @10mA )
測試接☐電(diàn)壓準确度 3%,對地短路(lù)不失效
DD risingFling TIME 1ms<Tr<30ms @60°C/F.L/R
DD powerprotection OVP/OCP/UVP/UCP

 

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