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Inline Final 光(guāng)學測試系統

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本設備适用于Micro OLED産品光(guāng)學測試AOI缺陷測試及AVI外觀缺陷檢測;
設備組成: 光(guāng)學檢測單元、 運動單元、視覺對位單元、畫(huà)面檢測單元、外觀檢測單元;
對應産品屏解析度: 最高(gāo)4K,兼容尺寸0.2inch~3inch;檢測精度:0.8um;
針對檢測後不良程度進行自(zì)動分揀下(xià)料;
系統設計采用先進科技(jì),經客戶驗證,運行品質良好,控制系統采用的執行元件(jiàn)應具備高(gāo)精度、高(gāo)可靠性和反應迅速的特點。

功能(néng)
針對切割後的Die組裝為(wèi)成品後做最終點燈/光(guāng)學測試

規格
人工(gōng)自(zì)動上(shàng)下(xià)料,全自(zì)動測試
測試治具-Pogo PIN探針接觸(連接頭材質PEEK,接觸壽命>10000次)
連接頭形狀-依據客戶産品定制化
搭載4300M CCD 和5倍放(fàng)大鏡頭,支持8K分辨率,支持子像素1.2um
搭載Klein Instrument CA-小(xiǎo)尺寸測試探頭,支持色度和亮度測試
支持點燈畫(huà)檢/光(guāng)學檢測/gamma Tuning/OTP/MTP/demura
主動防震台,支持VC-D/F等級
支持産品等級分類
支持CIM&MES系統整合

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