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Offline FT光(guāng)學測試系統（AOI&AVI/OTP 測試）

所屬分類 : 畫(huà)面缺陷AOI檢測

零售價

0.0

元

特點：
Micro OLED離線光(guāng)學測試系統，0.2-3inch；
自(zì)動運動控制；
手動産品上(shàng)下(xià)料，自(zì)動對位，手動壓接、自(zì)動測試；
采用快速多(duō)功能(néng)夾具，支持多(duō)種型号産品，快速切換；
多(duō)儀器(qì)搭載，支持AOI與光(guāng)學；
支持不同溫度點gamma調整，燒錄；
支持wafer 點線面缺陷測試，光(guāng)學特性測試；
支持不同尺寸TEG片開(kāi)發階段測試；

項目	規格
尺寸	長(cháng)寬高(gāo)：1.98m2.08m2.00m
測試樣品大小(xiǎo)	0.39inch~3inch,8”&12”wafer
彩色分析儀	CA402,探頭測量口徑約2 mm。探頭采用專用的光(guāng)學系統與算(suàn)法，确保在超低(dī)亮度與小(xiǎo)尺寸測量的條件(jiàn)下(xià)仍可準确測量
相(xiàng)機(jī)	1、AOI相(xiàng)機(jī)4300萬，高(gāo)分辨率CCD。
運動系統	采用高(gāo)精度伺服電(diàn)機(jī)，高(gāo)精度滾珠螺杆，
功能(néng)	色度、亮度、均勻性、、光(guāng)譜測試等支持：點、線、面缺陷測試，Mura測試。
信号	支持特儀制制型号機(jī)以及市(shì)面通(tōng)用品牌信号機(jī)，支持客制化化信号，信号格式：TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等
電(diàn)源	支持高(gāo)精度多(duō)路(lù)直流電(diàn)源輸出，以及客制化電(diàn)源需求。
軟件(jiàn)	特儀自(zì)主開(kāi)發之軟件(jiàn)，全中文版，C#編程模塊化，操作簡單，UI界面可依據客戶需求進行定制，軟件(jiàn)自(zì)帶各标準測試手法，可以通(tōng)過直接調用模式進行測試。